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一种时序电路的测试生成算法

佘强 陈护勋

计算机与数字工程2001，Vol.29Issue(3)：26-33,8.
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计算机与数字工程2001，Vol.29Issue(3)：26-33,8.

一种时序电路的测试生成算法

A Test Generation Algorithm for Sequential Circuits

佘强 1陈护勋1

作者信息

  • 1. 武汉数字工程研究所,武汉,430074
  • 折叠

摘要

关键词

时序电路测试生成/迭代阵列模型/测试效率

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

佘强,陈护勋..一种时序电路的测试生成算法[J].计算机与数字工程,2001,29(3):26-33,8.

计算机与数字工程

1672-9722

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