太阳能Issue(7)：27-28,17,3.
硅基薄膜光电性能测试技术——电导温度曲线和光电导衰退的测试
孔光临 1郝会颖 2彭文博 1刘石勇 1张长沙 1石明吉 1曾湘波 1廖显伯1
作者信息
- 1. 中国科学院半导体研究所
- 2. 中国地质大学
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摘要
关键词
硅基薄膜/电导/光电导/透射谱/电池量子效率分类
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孔光临,郝会颖,彭文博,刘石勇,张长沙,石明吉,曾湘波,廖显伯..硅基薄膜光电性能测试技术——电导温度曲线和光电导衰退的测试[J].太阳能,2008,(7):27-28,17,3.
