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基于DSP的存储器测试系统

高剑 刘明亮

中国计量学院学报2004，Vol.15Issue(4)：273-276,4.
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中国计量学院学报2004，Vol.15Issue(4)：273-276,4.

基于DSP的存储器测试系统

Memory test systems based on DSP

高剑 1刘明亮1

作者信息

  • 1. 北京工业大学,电子信息与控制工程学院,北京,100022
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摘要

关键词

存储器测试/数字信号处理器/图形发生器

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

高剑,刘明亮..基于DSP的存储器测试系统[J].中国计量学院学报,2004,15(4):273-276,4.

中国计量学院学报

OACHSSCDCSTPCD

2096-2835

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