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NiTi合金薄膜厚度对相变温度影响的X射线光电子能谱分析

李永华 孟繁玲 刘常升 郑伟涛 王煜明

物理学报2009，Vol.58Issue(4)：2742-2745,4.
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物理学报2009，Vol.58Issue(4)：2742-2745,4.

NiTi合金薄膜厚度对相变温度影响的X射线光电子能谱分析

X-ray photoelectron spectroscopy analysis of the effect of thickness on the transformation temperature of NiTi alloy thin films

李永华 1孟繁玲 1刘常升 2郑伟涛 3王煜明2

作者信息

  • 1. 哈尔滨工程大学理学院,水下智能机器人技术国防科技重点实验室,哈尔滨,150001
  • 2. 吉林大学材料科学系,汽车材料教育部重点实验室,长春,130012
  • 3. 东北大学材料与冶金学院,沈阳,110004
  • 折叠

摘要

关键词

NiTi合金薄膜/X射线衍射/相变/X射线光电子能谱

分类

数理科学

引用本文复制引用

李永华,孟繁玲,刘常升,郑伟涛,王煜明..NiTi合金薄膜厚度对相变温度影响的X射线光电子能谱分析[J].物理学报,2009,58(4):2742-2745,4.

基金项目

哈尔滨工程大学科研启动金(批准号:HEUFT08035)、国家博士后科学基金(批准号:20060390432)和黑龙江省博士后科研启动资助金(批准号:LBH-Q08123)资助的课题. （批准号:HEUFT08035）

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-3290

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