计量学报2003，Vol.24Issue(4)：279-282,347,5.
用高阶矩谱表征粗糙表面的偏斜程度
Characterization of the Skewness of Rough Surface by High-order Moment Spectrum
李成贵1
作者信息
- 1. 北京航空航天大学自动化学院测控系,北京,100083
- 折叠
摘要
关键词
计量学/表面粗糙度/双谱/参数表征/矩谱/偏斜度分类
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李成贵..用高阶矩谱表征粗糙表面的偏斜程度[J].计量学报,2003,24(4):279-282,347,5.
