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MCT关断失效分析

张鹤鸣 戴显英 王伟

半导体学报2000,Vol.21Issue(3):280-285,6.
半导体学报2000,Vol.21Issue(3):280-285,6.

MCT关断失效分析

Analysis of Turn-off Failure in MCT

张鹤鸣 1戴显英 1王伟1

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学微电子所西安 710071
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摘要

关键词

MCT/关断/失效分析

引用本文复制引用

张鹤鸣,戴显英,王伟..MCT关断失效分析[J].半导体学报,2000,21(3):280-285,6.

半导体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1674-4926

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