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半导体学报
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MCT关断失效分析
MCT关断失效分析
张鹤鸣
戴显英
王伟
半导体学报
2000,Vol.21
Issue(3):280-285,6.
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半导体学报
2000,Vol.21
Issue(3)
:280-285,6.
MCT关断失效分析
Analysis of Turn-off Failure in MCT
张鹤鸣
1
戴显英
1
王伟
1
作者信息
1.
西安电子科技大学微电子所西安 710071
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摘要
关键词
MCT
/
关断
/
失效分析
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张鹤鸣,戴显英,王伟..MCT关断失效分析[J].半导体学报,2000,21(3):280-285,6.
半导体学报
OA
北大核心
CSCD
CSTPCD
ISSN:
1674-4926
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