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基于AT90系列单片机的过载存储测试系统

汪韧冬 白玉贤 万丽珍

兵工自动化2002，Vol.21Issue(1)：28-30,3.
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兵工自动化2002，Vol.21Issue(1)：28-30,3.

基于AT90系列单片机的过载存储测试系统

An Acceleration Memory Testing System Based on AT90 MCU

汪韧冬 1白玉贤 1万丽珍1

作者信息

  • 1. 北京理工大学机电工程学院,北京,100081
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摘要

关键词

测试系统/单片机/过载存储

分类

军事科技

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汪韧冬,白玉贤,万丽珍..基于AT90系列单片机的过载存储测试系统[J].兵工自动化,2002,21(1):28-30,3.

兵工自动化

1006-1576

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