测试技术学报2006，Vol.20Issue(4)：283-287,5.
贝叶斯法在电子器件可靠性指标估计中的应用
The Application of Bayesian Theorem to Evaluate the Reliability Index of Electronic Parts
摘要
关键词
贝叶斯法/可靠性/电子器件/失效率/平均无故障工作时间分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
高印寒,张新,杨开宇,宋卫东,谭艳军..贝叶斯法在电子器件可靠性指标估计中的应用[J].测试技术学报,2006,20(4):283-287,5.基金项目
吉林省科技发展计划基金资助项目(20030527) （20030527）
