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自动测试系统自检适配器自动设计技术

孙宝江 李晓白 秦红磊 沈士团

测试技术学报2007,Vol.21Issue(4):288-294,7.
测试技术学报2007,Vol.21Issue(4):288-294,7.

自动测试系统自检适配器自动设计技术

Automatic Design Technique for the Self-Test Adapter of Automatic Design System

孙宝江 1李晓白 2秦红磊 1沈士团1

作者信息

  • 1. 北京航空航天大学,电子信息工程学院,北京,100083
  • 2. 山东轻工业学院,电子信息与控制工程学院,山东,济南,250100
  • 折叠

摘要

关键词

自动测试/自动测试系统/自检适配器/自动设计/可交换虚拟仪器(IVI)

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

孙宝江,李晓白,秦红磊,沈士团..自动测试系统自检适配器自动设计技术[J].测试技术学报,2007,21(4):288-294,7.

基金项目

国防基础科研基金资助项目(K1200060302) (K1200060302)

"十一五"国防预研基金资助项目(B0520060455) (B0520060455)

测试技术学报

OACSTPCD

1671-7449

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