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系统芯片测试调度模型及其调度算法

陈新武 牟光臣 柳青梅

信阳师范学院学报（自然科学版）2008，Vol.21Issue(2)：294-296,300,4.
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信阳师范学院学报（自然科学版）2008，Vol.21Issue(2)：294-296,300,4.

系统芯片测试调度模型及其调度算法

A Test Schedule Model and Corresponding Algorithm for SoCs

陈新武 1牟光臣 2柳青梅3

作者信息

  • 1. 信阳师范学院物理电子工程学院,河南信阳,464000
  • 2. 华中科技大学图像识别与人工智能研究所IC设计中心,湖北,武汉,430074
  • 3. 河南机电高等专科学校电子信息工程系,河南,新乡,453002
  • 折叠

摘要

关键词

系统芯片/调度算法/测试资源/IP核/ITC02测试基准电路

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈新武,牟光臣,柳青梅..系统芯片测试调度模型及其调度算法[J].信阳师范学院学报（自然科学版）,2008,21(2):294-296,300,4.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(90207020) （90207020）

信阳师范学院学报（自然科学版）

OACSTPCD

1003-0972

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