红外技术2008，Vol.30Issue(5)：297-300,4.
多元探测器芯片测试系统设计
Design for the Measurement System of Multiple Element Detector Chip
林渊 1彭振宇 2郑宾1
作者信息
- 1. 电子测试技术国家重点实验室,山西,太原,030051
- 2. 中国空空导弹研究院,河南,洛阳,471009
- 折叠
摘要
关键词
红外探测器/背景电流/漏电流/动态阻抗/AgilentVEE分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
林渊,彭振宇,郑宾..多元探测器芯片测试系统设计[J].红外技术,2008,30(5):297-300,4.
