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应用于非破坏性读出铁电存储器的MFIS FET制备及其特性

颜雷 林殷茵 汤庭鳌 黄维宁 姜国宝

半导体学报2002,Vol.23Issue(3):301-304,4.
半导体学报2002,Vol.23Issue(3):301-304,4.

应用于非破坏性读出铁电存储器的MFIS FET制备及其特性

Fabrication and Properties of MFIS FET for NDRO Ferroelectric Memory Application

颜雷 1林殷茵 1汤庭鳌 1黄维宁 1姜国宝1

作者信息

  • 1. 复旦大学微电子所,ASIC和系统国家重点实验室,上海,200433
  • 折叠

摘要

关键词

MF(I)S铁电存储器/不挥发铁电存储器/不挥发非破坏性读出/铁电薄膜

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

颜雷,林殷茵,汤庭鳌,黄维宁,姜国宝..应用于非破坏性读出铁电存储器的MFIS FET制备及其特性[J].半导体学报,2002,23(3):301-304,4.

基金项目

国家自然科学基金、上海AM基金、国防科技预研基金、博士点基金资助项目 ()

半导体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1674-4926

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