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一种基于电路精简的Memory特征参数提取方法

杨磊 罗小华

计算机应用与软件2007,Vol.24Issue(1):30-31,34,3.
计算机应用与软件2007,Vol.24Issue(1):30-31,34,3.

一种基于电路精简的Memory特征参数提取方法

A MEMORY CHARACTERIZATION METHOD BASED ON CIRCUIT REDUCTION

杨磊 1罗小华1

作者信息

  • 1. 浙江大学超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027
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摘要

关键词

电路精简/深亚微米/参数提取

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨磊,罗小华..一种基于电路精简的Memory特征参数提取方法[J].计算机应用与软件,2007,24(1):30-31,34,3.

基金项目

浙江省科技计划重点项目资助(021107065). (021107065)

计算机应用与软件

OA北大核心

1000-386X

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