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光电子技术中的若干计量测试问题

李同保

中国计量学院学报2001，Vol.12Issue(2)：30-35,6.
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中国计量学院学报2001，Vol.12Issue(2)：30-35,6.

光电子技术中的若干计量测试问题

Some key metrological requirements in optoelectronics technology and industry

李同保1

作者信息

  • 1. 同济大学,
  • 折叠

摘要

关键词

激光辐射度学/光纤计量学/偏振模式色散/波长标样

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李同保..光电子技术中的若干计量测试问题[J].中国计量学院学报,2001,12(2):30-35,6.

中国计量学院学报

2096-2835

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