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一个专用芯片的边界扫描测试

杨松 石广源

辽宁大学学报（自然科学版）2003，Vol.30Issue(1)：32-35,4.
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辽宁大学学报（自然科学版）2003，Vol.30Issue(1)：32-35,4.

一个专用芯片的边界扫描测试

A Boundary-Scan Testing of ASIC

杨松 1石广源1

作者信息

  • 1. 辽宁大学,物理系,辽宁,沈阳,110036
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摘要

关键词

边界扫描/测试/JTAG

分类

信息技术与安全科学

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杨松,石广源..一个专用芯片的边界扫描测试[J].辽宁大学学报（自然科学版）,2003,30(1):32-35,4.

辽宁大学学报（自然科学版）

1000-5846

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