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不同类型双极晶体管的低剂量率辐射损伤增强效应损伤机制

王先明 刘楚湘 魏蔚

新疆师范大学学报(自然科学版)2005,Vol.24Issue(4):32-35,4.
新疆师范大学学报(自然科学版)2005,Vol.24Issue(4):32-35,4.

不同类型双极晶体管的低剂量率辐射损伤增强效应损伤机制

The Mechanism of Different Type Bipolar Transistors Enhanced Low Does Rate Sensitivity

王先明 1刘楚湘 1魏蔚1

作者信息

  • 1. 新疆师范大学,数理信息学院,新疆,乌鲁木齐,830054
  • 折叠

摘要

关键词

双极晶体管/ELDRS/低剂量率辐射损伤增强效应

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王先明,刘楚湘,魏蔚..不同类型双极晶体管的低剂量率辐射损伤增强效应损伤机制[J].新疆师范大学学报(自然科学版),2005,24(4):32-35,4.

新疆师范大学学报(自然科学版)

1008-9659

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