分析测试学报2009，Vol.28Issue(3)：342-344,348,4.
填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究
Study on Effect of Fill-sample Depth on Determination with Polycrystal Powder X-ray Diffractometer
程国峰 1杨传铮 2张健2
作者信息
- 1. 中国科学院,上海硅酸盐研究所,无机材料分析测试中心,上海,200050
- 2. 中国科学院,上海微系统与信息技术研究所,上海,200050
- 折叠
摘要
关键词
填样深度/多晶粉末/X射线衍射仪/峰位/半高宽/衍射强度分类
矿业与冶金引用本文复制引用
程国峰,杨传铮,张健..填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究[J].分析测试学报,2009,28(3):342-344,348,4.
