抚顺石油学院学报2002，Vol.22Issue(4)：34-37,4.
X射线衍射法测定分子筛硅铝比与结晶度
Determination of Crystallinity and Si-to-Al Ratio of Synthetic Molecular Sieve by X-Ray Diffraction
沈春玉 1储刚 1刘发起1
作者信息
- 1. 辽宁石油化工大学石油化工学院,辽宁,抚顺l13001
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摘要
关键词
晶胞参数/结晶度/NaY分子筛/硅铝比分类
矿业与冶金引用本文复制引用
沈春玉,储刚,刘发起..X射线衍射法测定分子筛硅铝比与结晶度[J].抚顺石油学院学报,2002,22(4):34-37,4.
