航空材料学报2001，Vol.21Issue(2)：34-38,5.
铝含量对铜镍电阻薄膜结构及电性能的影响
The influence of aluminum contents on the microstructures and electrical properties of CuNi resistive films
摘要
关键词
铝含量/铜镍电阻薄膜/结构/电性能分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
董显平,吴建生..铝含量对铜镍电阻薄膜结构及电性能的影响[J].航空材料学报,2001,21(2):34-38,5.
