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全耗尽型浮空埋层LDMOS的耐压特性

成建兵 张波 李肇基

半导体学报2008,Vol.29Issue(2):344-347,4.
半导体学报2008,Vol.29Issue(2):344-347,4.

全耗尽型浮空埋层LDMOS的耐压特性

Breakdown Voltage Characteristics of LDMOS with a Full Depletion Floating Buried Layer

成建兵 1张波 1李肇基1

作者信息

  • 1. 电子科技大学IC设计中心,成都,610054
  • 折叠

摘要

关键词

LDMOS全耗尽型浮空埋层/RESURF/REBULF/击穿电压

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

成建兵,张波,李肇基..全耗尽型浮空埋层LDMOS的耐压特性[J].半导体学报,2008,29(2):344-347,4.

基金项目

模拟集成电路国家重点实验室基金(9140C0903010604)和国家自然科学基金(批准号 (9140C0903010604)

60576052)资助项目 ()

半导体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1674-4926

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