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X射线反射法测量铋系超导薄膜的结构参数

贺彤 孙伟 金禹 祁阳 裴剑芬

理化检验-物理分册2009，Vol.45Issue(6)：345-347,3.
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理化检验-物理分册2009，Vol.45Issue(6)：345-347,3.

X射线反射法测量铋系超导薄膜的结构参数

Structure Parameter of Bi Superconducting Thin Film Using X-Ray Reflectivity

贺彤 1孙伟 1金禹 2祁阳 2裴剑芬1

作者信息

  • 1. 东北大学,研究院分析测试中心,沈阳,110004
  • 2. 东北大学,理学院,沈阳,110004
  • 折叠

摘要

关键词

X射线反射法/薄膜/厚度

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

贺彤,孙伟,金禹,祁阳,裴剑芬..X射线反射法测量铋系超导薄膜的结构参数[J].理化检验-物理分册,2009,45(6):345-347,3.

基金项目

沈阳市大型科学仪器网资助项目 （）

理化检验-物理分册

OACSTPCD

1001-4012

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