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基于I-V-T和C-V-T的GaN上Ni/Au肖特基接触特性研究

刘杰 郝跃 冯倩 王冲 张进城 郭亮良

物理学报2007,Vol.56Issue(6):3483-3487,5.
物理学报2007,Vol.56Issue(6):3483-3487,5.

基于I-V-T和C-V-T的GaN上Ni/Au肖特基接触特性研究

Characterization of Ni/Au GaN Schottky contact base on I-V-T and C-V-T measurements

刘杰 1郝跃 1冯倩 1王冲 1张进城 1郭亮良1

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学微电子学院,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安,710071
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摘要

关键词

氮化镓/肖特基二极管/表面势垒减薄模型/热电子场发射

分类

数理科学

引用本文复制引用

刘杰,郝跃,冯倩,王冲,张进城,郭亮良..基于I-V-T和C-V-T的GaN上Ni/Au肖特基接触特性研究[J].物理学报,2007,56(6):3483-3487,5.

基金项目

国家重点基础研究发展计划(973)(批准号:51327020301,2002CB311904)和西安应用材料创新基金(批准号:XA-AM-200616)资助的课题. (973)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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