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半导体器件热特性的电学法测量与分析

冯士维 谢雪松 吕长志 张小玲 何焱 沈光地

半导体学报Issue(5)：358,1.
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半导体学报Issue(5)：358,1.

半导体器件热特性的电学法测量与分析

冯士维 1谢雪松 1吕长志 2张小玲 2何焱 2沈光地2

作者信息

  • 1. 北京工业大学电子工程系
  • 折叠

摘要

关键词

半导体器件/热特性/电学法/测量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

冯士维,谢雪松,吕长志,张小玲,何焱,沈光地..半导体器件热特性的电学法测量与分析[J].半导体学报,1999,(5):358,1.

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

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