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集成电路知识产权保护及司法鉴定探讨OA

Protection and Forensic Evaluation of Intellectual Property of Integrated Circuits

中文摘要

对我国的集成电路布图设计采用专门法保护进行了讨论,并结合司法鉴定案例,对原创性和相似性比较进行分析.

王桂海;罗苏平

华南师范大学计算机学院,广东,广州,510631华南师范大学计算机学院,广东,广州,510631

社会科学

集成电路布图设计知识产权司法鉴定

《中国司法鉴定》 2007 (1)

36-39,4

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