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染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证

张志劲 蒋兴良 孙才新 胡建林 苑吉河

电工技术学报2009,Vol.24Issue(4):36-41,6.
电工技术学报2009,Vol.24Issue(4):36-41,6.

染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证

DC Pollution Flashover Model and Its Validation of Polluted Insulator Strings

张志劲 1蒋兴良 1孙才新 1胡建林 1苑吉河1

作者信息

  • 1. 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室,重庆,400044
  • 折叠

摘要

关键词

直流/绝缘子串/污闪模型/泄漏电流

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张志劲,蒋兴良,孙才新,胡建林,苑吉河..染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证[J].电工技术学报,2009,24(4):36-41,6.

基金项目

国家重点基础研究发展计划(973项目)(2009CBT24503),重庆大学青年骨干教师创新能力培育基金资助项目. (973项目)

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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