测试技术学报2008，Vol.22Issue(4)：364-367,4.
基于电子产品板级加速退化数据的可靠性分析
Reliability Analysis of Circuit Boards Based on Accelerated Degradation Test Data
摘要
关键词
加速试验/退化/无失效数据/可靠性/B-S模型分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王玉明,蔡金燕..基于电子产品板级加速退化数据的可靠性分析[J].测试技术学报,2008,22(4):364-367,4.基金项目
国家自然科学基金资助项目(60472009) （60472009）
