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用扫描电容显微镜(SCM)研究金基底上的铝纳米粒子

刘赛锦 侯士敏 申自勇 张琦锋 郭等柱 薛增泉

北京大学学报(自然科学版)2002,Vol.38Issue(3):364-368,5.
北京大学学报(自然科学版)2002,Vol.38Issue(3):364-368,5.

用扫描电容显微镜(SCM)研究金基底上的铝纳米粒子

Study of Al Nanoparticles on Au Substrate with Scanning Capacitance Microscopy

刘赛锦 1侯士敏 1申自勇 1张琦锋 1郭等柱 1薛增泉1

作者信息

  • 1. 北京大学电子学系,北京,100871
  • 折叠

摘要

关键词

扫描电容显微镜(SCM)/电容梯度/铝纳米粒子

分类

数理科学

引用本文复制引用

刘赛锦,侯士敏,申自勇,张琦锋,郭等柱,薛增泉..用扫描电容显微镜(SCM)研究金基底上的铝纳米粒子[J].北京大学学报(自然科学版),2002,38(3):364-368,5.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(69890221,69902002) (69890221,69902002)

北京大学学报(自然科学版)

OA北大核心CSCDCSTPCD

0479-8023

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