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微机电系统测试技术及方法

李智 王向军

光学精密工程2003,Vol.11Issue(1):37-44,8.
光学精密工程2003,Vol.11Issue(1):37-44,8.

微机电系统测试技术及方法

MEMS measurement technologies and methods

李智 1王向军1

作者信息

  • 1. 天津大学,精密仪器与光电子工程学院,精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072
  • 折叠

摘要

关键词

微机电系统/MEMS检测技术/光电检测/计算机视觉检测

分类

机械制造

引用本文复制引用

李智,王向军..微机电系统测试技术及方法[J].光学精密工程,2003,11(1):37-44,8.

光学精密工程

OACSCDCSTPCD

1004-924X

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