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低压CVD氮化硅薄膜的沉积速率和表面形貌

刘学建 金承钰 张俊计 黄智勇 黄莉萍

无机材料学报2004,Vol.19Issue(2):379-384,6.
无机材料学报2004,Vol.19Issue(2):379-384,6.

低压CVD氮化硅薄膜的沉积速率和表面形貌

Growth Rate and Surface Morphology of Silicon Nitride Thin Films by Low Pressure Chemical Vapor Deposition

刘学建 1金承钰 2张俊计 1黄智勇 1黄莉萍1

作者信息

  • 1. 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050
  • 2. 上海交通大学,上海,200030
  • 折叠

摘要

关键词

LPCVD/氮化硅薄膜/沉积速率/表面形貌

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

刘学建,金承钰,张俊计,黄智勇,黄莉萍..低压CVD氮化硅薄膜的沉积速率和表面形貌[J].无机材料学报,2004,19(2):379-384,6.

基金项目

上海市科技发展基金(00JC14015) (00JC14015)

无机材料学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-324X

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