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分子束外延P型Hg(1-x)CdxTe少子寿命的研究

魏青竹 吴俊 巫艳 陈路 于梅芳 傅祥良 乔怡敏 王伟强 何力

人工晶体学报2007,Vol.36Issue(2):385-389,5.
人工晶体学报2007,Vol.36Issue(2):385-389,5.

分子束外延P型Hg(1-x)CdxTe少子寿命的研究

Minority Carrier Lifetime in P-type Hg(1-x)CdxTe Grown by MBE

魏青竹 1吴俊 2巫艳 1陈路 2于梅芳 1傅祥良 2乔怡敏 1王伟强 2何力1

作者信息

  • 1. 中国科学院上海技术物理研究所材料器件中心,上海,200083
  • 2. 中国科学院研究生院,北京,100039
  • 折叠

摘要

关键词

HgCdTe/P型材料/As掺杂/μ-PCD/少子寿命

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

魏青竹,吴俊,巫艳,陈路,于梅芳,傅祥良,乔怡敏,王伟强,何力..分子束外延P型Hg(1-x)CdxTe少子寿命的研究[J].人工晶体学报,2007,36(2):385-389,5.

人工晶体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-985X

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