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量子电子学报
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白参考剪切干涉技术中屏倾斜对检测精度的影响
白参考剪切干涉技术中屏倾斜对检测精度的影响
王召兵
量子电子学报
Issue(4):398,1.
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量子电子学报
Issue(4)
:398,1.
白参考剪切干涉技术中屏倾斜对检测精度的影响
王召兵
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王召兵..白参考剪切干涉技术中屏倾斜对检测精度的影响[J].量子电子学报,1998,(4):398,1.
量子电子学报
OA
北大核心
CSCD
ISSN:
1007-5461
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