真空电子技术Issue(2)：40-42,3.
应用XRF法对陶瓷金属化厚度的检测
Measurements of the Thickness of Metallization Layer on Alumina Ceramic through XRF
曾敏 1伍智 1金大志 1杨卫英 1邹桂娟1
作者信息
- 1. 中国工程物理研究院,电子工程研究所,四川,绵阳,621900
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摘要
关键词
陶瓷金属化厚度/X射线荧光光谱法/无损检测分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
曾敏,伍智,金大志,杨卫英,邹桂娟..应用XRF法对陶瓷金属化厚度的检测[J].真空电子技术,2006,(2):40-42,3.
