| 注册
首页|期刊导航|计算机工程与科学|面向存储器核的内建自测试

面向存储器核的内建自测试

檀彦卓 徐勇军 韩银和 李华伟 李晓维

计算机工程与科学2005,Vol.27Issue(4):40-42,65,4.
计算机工程与科学2005,Vol.27Issue(4):40-42,65,4.

面向存储器核的内建自测试

The Built-In Self-Test for Memory Cores

檀彦卓 1徐勇军 1韩银和 1李华伟 1李晓维1

作者信息

  • 1. 中国科学院计算技术研究所,北京,100080
  • 折叠

摘要

关键词

可测试性设计/存储器内建自测试/故障模型/March算法

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

檀彦卓,徐勇军,韩银和,李华伟,李晓维..面向存储器核的内建自测试[J].计算机工程与科学,2005,27(4):40-42,65,4.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(90207002,60242001) (90207002,60242001)

北京市科技重点项目(H020120120130) (H020120120130)

计算机工程与科学

OACSCD

1007-130X

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文