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用于绝缘子表面电荷测量的电容探头法的标度问题

汪沨 胡红利 张乔根 陈庆国 邱毓昌

高压电器2002,Vol.38Issue(2):40-43,4.
高压电器2002,Vol.38Issue(2):40-43,4.

用于绝缘子表面电荷测量的电容探头法的标度问题

CALIBRATION OF CAPACITIVE PROBE MEASUREMENT FOR INSULATOR SURFACE CHARGE

汪沨 1胡红利 1张乔根 1陈庆国 1邱毓昌1

作者信息

  • 1. 西安交通大学电气工程学院,陕西,西安,710049
  • 折叠

摘要

关键词

绝缘子/表面电荷/测量/标度

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

汪沨,胡红利,张乔根,陈庆国,邱毓昌..用于绝缘子表面电荷测量的电容探头法的标度问题[J].高压电器,2002,38(2):40-43,4.

基金项目

教育部高校博士点基金资助项目(20010698014) 国家自然科学基金资助项目(59807006) (20010698014)

高压电器

OA北大核心CSTPCD

1001-1609

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