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常用通信接口芯片过电压耐受能力

周文俊 王继业 张洪义 刘永石 陈学东

高电压技术2001,Vol.27Issue(4):41-43,56,4.
高电压技术2001,Vol.27Issue(4):41-43,56,4.

常用通信接口芯片过电压耐受能力

Over-voltage Withstand Test of Communication Interface Chips

周文俊 1王继业 2张洪义 2刘永石 2陈学东3

作者信息

  • 1. 武汉大学电气工程学院,
  • 2. 吉林电力通信公司,
  • 3. 广州市番禺供电局,
  • 折叠

摘要

关键词

集成电路/过电压/试验/耐受能力

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周文俊,王继业,张洪义,刘永石,陈学东..常用通信接口芯片过电压耐受能力[J].高电压技术,2001,27(4):41-43,56,4.

高电压技术

OA北大核心CSCD

1003-6520

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