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外延层组分及界面状况的X射线双晶衍射测定

朱南昌 李润身 陈京一 许顺生

半导体学报Issue(1)：42,1.
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半导体学报Issue(1)：42,1.

外延层组分及界面状况的X射线双晶衍射测定

朱南昌 1李润身 1陈京一 1许顺生1

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朱南昌,李润身,陈京一,许顺生..外延层组分及界面状况的X射线双晶衍射测定[J].半导体学报,1995,(1):42,1.

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

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