电子器件2005，Vol.28Issue(2)：421-427,7.
AlGaN PIN紫外探测器的结构及性能分析
Analysis of Structure and Characteristics of AlGaN PIN Ultraviolet Photodetectors
张春福 1郝跃 1周小伟 1李培咸 1邵波涛1
作者信息
- 1. 西安电子科技大学微电子所,西安,710071
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摘要
关键词
AlGaN/p-i-n/光电探测器/可见光盲区/太阳盲区分类
机械制造引用本文复制引用
张春福,郝跃,周小伟,李培咸,邵波涛..AlGaN PIN紫外探测器的结构及性能分析[J].电子器件,2005,28(2):421-427,7.
