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低温退火对稀磁半导体(Ga,Mn)As性质的影响

邓加军 赵建华 蒋春萍 牛智川 杨富华 吴晓光 郑厚植

半导体学报2005,Vol.26Issue(z1):42-44,3.
半导体学报2005,Vol.26Issue(z1):42-44,3.

低温退火对稀磁半导体(Ga,Mn)As性质的影响

Enhancement of Ferromagnetic Transition Temperature in (Ga, Mn) As by Post-Growth Annealing

邓加军 1赵建华 1蒋春萍 1牛智川 1杨富华 1吴晓光 1郑厚植1

作者信息

  • 1. 中国科学院半导体研究所超晶格国家重点实验室,北京,100083
  • 折叠

摘要

关键词

稀磁半导体/铁磁性/分子束外延

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

邓加军,赵建华,蒋春萍,牛智川,杨富华,吴晓光,郑厚植..低温退火对稀磁半导体(Ga,Mn)As性质的影响[J].半导体学报,2005,26(z1):42-44,3.

基金项目

国家自然科学基金重点项目(批准号:10334030),国家重点基础研究专项(批准号:2001CB3095)和留学回国人员科研启动基金资助项目 (批准号:10334030)

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

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