红外技术2003，Vol.25Issue(6)：42-44,48,4.
碲镉汞材料少子寿命的微波反射光电导衰减测量
Measurement on Minority Carrier Lifetime of Mercury Cadmium Telluride Material by Microwave Photoconductivity Decay Method
黄晖 1李亚文 1马庆华 1陈建才 1姬荣斌1
作者信息
- 1. 昆明物理研究所,云南,昆明,650223
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摘要
关键词
碲镉汞/微波/光电导衰减/少子寿命分类
数理科学引用本文复制引用
黄晖,李亚文,马庆华,陈建才,姬荣斌..碲镉汞材料少子寿命的微波反射光电导衰减测量[J].红外技术,2003,25(6):42-44,48,4.
