|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|半导体学报|InGaAsP/InP 外延薄膜折射率与厚度测量

InGaAsP/InP 外延薄膜折射率与厚度测量

刘永智 余般枚 边红

半导体学报Issue(7)：429,1.
✕
半导体学报Issue(7)：429,1.

InGaAsP/InP 外延薄膜折射率与厚度测量

刘永智 1余般枚 1边红1

作者信息

  • 折叠

摘要

引用本文复制引用

刘永智,余般枚,边红..InGaAsP/InP 外延薄膜折射率与厚度测量[J].半导体学报,1993,(7):429,1.

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文