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在线检测多晶硅薄膜热导率测试结构的设计与模拟

许高斌 黄庆安

半导体学报2004,Vol.25Issue(4):430-435,6.
半导体学报2004,Vol.25Issue(4):430-435,6.

在线检测多晶硅薄膜热导率测试结构的设计与模拟

Design and Simulation of On-Line Test Structure for Thermal Conductivity of Polysilicon Thin Films

许高斌 1黄庆安1

作者信息

  • 1. 东南大学MEMS教育部重点实验室,南京,210096
  • 折叠

摘要

关键词

热导率/表面微机械技术/测试结构/多晶硅薄膜

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

许高斌,黄庆安..在线检测多晶硅薄膜热导率测试结构的设计与模拟[J].半导体学报,2004,25(4):430-435,6.

半导体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1674-4926

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