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1 000 kV同塔双回线路双回故障跳闸概率分析

谷定燮 戴敏 李志军 李振强

高电压技术2009,Vol.35Issue(3):441-444,4.
高电压技术2009,Vol.35Issue(3):441-444,4.

1 000 kV同塔双回线路双回故障跳闸概率分析

Analysis of Failure Trip Rate of 1000 kV Double Circuits on the Same Tower

谷定燮 1戴敏 1李志军 1李振强1

作者信息

  • 1. 国网电力科学研究院,武汉,430074
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摘要

关键词

1000kV/同塔双回/线路/故障/跳闸率/故障类型

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

谷定燮,戴敏,李志军,李振强..1 000 kV同塔双回线路双回故障跳闸概率分析[J].高电压技术,2009,35(3):441-444,4.

基金项目

国家"十一五"科技支撑计划重大项且(2006BAA02A02). (2006BAA02A02)

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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