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一种检测互连的IDDQ内建并行测试方法

冯建华 沈绪榜 张廷庆

西安电子科技大学学报(自然科学版)2000,Vol.27Issue(4):442-446,5.
西安电子科技大学学报(自然科学版)2000,Vol.27Issue(4):442-446,5.

一种检测互连的IDDQ内建并行测试方法

An IDDQ based built-in concurrent test technique for interconnects

冯建华 1沈绪榜 1张廷庆2

作者信息

  • 1. 西安微电子技术研究所,陕西,西安,710065
  • 2. 西安电子科技大学,微电子研究所,陕西,西安,710071
  • 折叠

摘要

关键词

边界扫描/IDDQ测试/并行内建自测试

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

冯建华,沈绪榜,张廷庆..一种检测互连的IDDQ内建并行测试方法[J].西安电子科技大学学报(自然科学版),2000,27(4):442-446,5.

基金项目

国家部委预研基金资助项目(45.7.1) (45.7.1)

西安电子科技大学学报(自然科学版)

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2400

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