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一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型

张荣辉 姜楠 勾朗 车美儒 舒风笛

计算机工程2008,Vol.34Issue(8):44-46,3.
计算机工程2008,Vol.34Issue(8):44-46,3.

一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型

Software Reliability Growth Model Considering Defect Correlation

张荣辉 1姜楠 2勾朗 1车美儒 2舒风笛1

作者信息

  • 1. 中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080
  • 2. 中国科学院研究生院,北京,100080
  • 折叠

摘要

关键词

软件可靠性增长模型/非齐次泊松过程/软件缺陷关联

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张荣辉,姜楠,勾朗,车美儒,舒风笛..一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型[J].计算机工程,2008,34(8):44-46,3.

基金项目

国家"863"计划基金资助项目(2006AA01Z182) (2006AA01Z182)

国家自然科学基金资助项目(60473060) (60473060)

计算机工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-3428

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