半导体学报2007，Vol.28Issue(z1)：448-451,4.
基于序进应力加速实验评价失效率的新方法
A Novel Method to Determine the Failure Rate Using Process-Stress Accelerated Test
郭春生 1李秀宇 1朱春节 1马卫东 1吕长志 1李志国1
作者信息
- 1. 北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022
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摘要
关键词
寿命实验/失效率/寿命分布分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
郭春生,李秀宇,朱春节,马卫东,吕长志,李志国..基于序进应力加速实验评价失效率的新方法[J].半导体学报,2007,28(z1):448-451,4.
