半导体学报2007，Vol.28Issue(3)：448-452,5.
流图法在光探测器芯片高频特性测量校准上的应用
Application of "Flow-Graph" Technique in Measurement Calibration of High Frequency Characteristics of Photodetectors
摘要
关键词
光探测器/高频响应/校准分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
苗昂,黄永清,李轶群,吴强,黄辉,任晓敏..流图法在光探测器芯片高频特性测量校准上的应用[J].半导体学报,2007,28(3):448-452,5.基金项目
国家重点基础研究发展计划(批准号:2003CB314901) （批准号:2003CB314901）
国家自然科学基金(批准号:60576018)和教育部"新世纪人才支持计划"(批准号:NCET-05-0111)资助项目 （批准号:60576018）
