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门极换流晶闸管(GCT)击穿机理的研究

王彩琳 高勇 马丽 刘静

电子器件2008,Vol.31Issue(2):449-452,4.
电子器件2008,Vol.31Issue(2):449-452,4.

门极换流晶闸管(GCT)击穿机理的研究

Research on the Breakdown Mechanism of Gate Commutated Thyristor

王彩琳 1高勇 1马丽 1刘静1

作者信息

  • 1. 西安理工大学电子工程系,西安,710048
  • 折叠

摘要

关键词

电力半导体器件/门极换流晶闸管/场阻止层/透明阳极/击穿

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王彩琳,高勇,马丽,刘静..门极换流晶闸管(GCT)击穿机理的研究[J].电子器件,2008,31(2):449-452,4.

基金项目

陕西省自然科学基金资助(2007E208) (2007E208)

西安理工大学科研基金资助(105-210610) (105-210610)

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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