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电子器件真实温度和发射率分布的红外测量

朱德忠 顾毓沁 晋宏师

红外技术2000，Vol.22Issue(1)：45,1.
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红外技术2000，Vol.22Issue(1)：45,1.

电子器件真实温度和发射率分布的红外测量

朱德忠 1顾毓沁 2晋宏师3

作者信息

  • 1. 清华大学工程力学系
  • 2. 北京微电子技术研究所
  • 折叠

摘要

关键词

红外热成像/电子器件/真实温度/发射率/红外测量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

朱德忠,顾毓沁,晋宏师..电子器件真实温度和发射率分布的红外测量[J].红外技术,2000,22(1):45,1.

红外技术

OA北大核心CSCD

1001-8891

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