理化检验-物理分册2004，Vol.40Issue(9)：453-456,4.
高性能聚焦离子束技术的应用
THE APPLICATION OF HIGH RESOLUTION FOCUSED ION BEAM (FIB)TECHNIQUE
周伟敏1
作者信息
- 1. 上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室,上海,200030
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摘要
关键词
聚焦离子束(FIB)/透射电子显微分析(TEM)/二次离子像(SIM)/样品制备分类
矿业与冶金引用本文复制引用
周伟敏..高性能聚焦离子束技术的应用[J].理化检验-物理分册,2004,40(9):453-456,4.
