测试技术学报2004，Vol.18Issue(z6)：45-48,4.
基于Talbot效应和moire条纹的CCD精细拼接理论研究
Study for Optical focal plane assembly of linear CCD array basing on Talbot effect and Moire fringe
王虎 1苗兴华2
作者信息
- 1. 中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学室,西安,710068
- 2. 中国科学院研究生院,北京,100039
- 折叠
摘要
关键词
CCD/Talbot效应/moire条纹/焦平面拼接分类
军事科技引用本文复制引用
王虎,苗兴华..基于Talbot效应和moire条纹的CCD精细拼接理论研究[J].测试技术学报,2004,18(z6):45-48,4.
